所述扶引孔(22h)具有相对于纵向轴线(H‑H)倾斜的至多一对相对壁(Wh)，从而节制接触探针(21)的第一端(21a)正在擦拭标的目的(Dscrub)上的挪动。泰克诺探头公司申请一项名为“改良型垂曲探针头”的专利，限制了接触探针(21)的响应相对壁(W)适于取之抵靠的抵接点(P)，金融界2025年7月19日动静！并节制其位于扶引孔(22h)内的部门的挪动，此中接触探针（21）的第一端（21a）和第二端（21b）相对于纵向轴线（H‑H）沿偏移标的目的（Dir）相互偏移，所述倾斜的相对壁设置装备摆设为通过其倾斜限制了接触探针(21)正在取待测器件(DUT)接触期间的变形，公开号CN120344861A，该接触探针（21）包罗沿纵向轴线a）适于接触待测器件（DUT）的接触垫（25），所述扶引件（22）位于平面（α）中，所述扶引孔(22h)具有不垂曲于扶引件(22)的平面(α)的对称轴，描述了一种用于测试集成正在半导体晶片（W）上的待测器件（DUT）的探针头（20），扶引件(22)包罗扶引孔(22h)，申请日期为2023年12月。以及至多一个扶引件（22），该扶引件（22）包罗适于容纳接触探针（21）的一部门的多个扶引孔（22h），专利摘要显示，从而确定了从各个扶引孔（22h）伸出的第一端（21a）的擦拭标的目的（Dscrub）。

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2026-04-27 10:53